Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 7: Surface imperfections

ISO 10110 (all parts) specifies the presentation of design and functional requirements for single optical elements and for optical assemblies in technical drawings used for their manufacture and inspection. ISO 10110-7:2017 specifies the indication of the level of acceptability of surface imperfections within a test region on individual optical elements and optical assemblies. These include localized surface imperfections, edge chips and long scratches. The acceptance level for imperfections is specified, taking into account functional effects (affecting image formation or durability of the optical element), as well as cosmetic (appearance) effects. ISO 10110-7:2017 applies to transmitting and reflecting surfaces of finished optical elements, whether or not they are coated, and to optical assemblies. It allows permissible imperfections to be specified according to the area affected by imperfections, or alternatively by the visibility of imperfections, on components or in optical assemblies.

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Imperfections de surface

L'ISO 10110 (toutes les parties) spécifie la représentation des exigences de conception et des exigences fonctionnelles des éléments optiques individuels et des ensembles optiques sur les dessins techniques utilisés pour leur fabrication et contrôle. ISO 10110-7:2017 spécifie l'indication du niveau d'acceptabilité des imperfections de surface à l'intérieur d'une région soumise à essai sur des éléments optiques individuels et des ensembles optiques. Cela inclue des imperfections de surface localisées, des égrenures et des rayures longues. Le niveau d'acceptation des imperfections est spécifié, en tenant compte des effets fonctionnels (affectant la formation de l'image ou la durabilité de l'élément optique), ainsi que des effets cosmétiques (apparence). ISO 10110-7:2017 s'applique aux surfaces de transmission et de réflexion d'éléments optiques finis, qu'ils soient ou non revêtus, et aux ensembles optiques. Elle permet de spécifier les imperfections admissibles en fonction de la zone affectée par les imperfections ou, en alternative, la visibilité de ces dernières sur les composants ou dans des ensembles optiques.

General Information

Status
Published
Publication Date
15-Aug-2017
Current Stage
9093 - International Standard confirmed
Completion Date
28-Oct-2022
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ISO 10110-7:2017 - Optics and photonics -- Preparation of drawings for optical elements and systems
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ISO 10110-7:2017 - Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systemes optiques
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Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 10110-7
Third edition
2017-08
Optics and photonics — Preparation
of drawings for optical elements and
systems —
Part 7:
Surface imperfections
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 7: Imperfections de surface
Reference number
ISO 10110-7:2017(E)
©
ISO 2017

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ISO 10110-7:2017(E)

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All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized otherwise in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on the internet or an intranet, without prior
written permission. Permission can be requested from either ISO at the address below or ISO’s member body in the country of
the requester.
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Fax +41 22 749 09 47
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ISO 10110-7:2017(E)

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Indication in drawings . 3
4.1 General . 3
4.2 Dimensional specification method for optical elements and assemblies . 3
4.2.1 Maximum permissible surface imperfections . 3
4.2.2 Surface imperfection indication for the dimensional specification method . 6
4.2.3 Imperfections with a smaller grade number in the dimensional
specification method . 6
4.2.4 Concentrations of surface imperfections in the dimensional
specification method . 6
4.2.5 Test methods for the dimensional specification method . 7
4.3 Visibility specification method for optical elements and assemblies . 7
4.3.1 Maximum permissible surface imperfections . 7
4.3.2 Visibility specification imperfections with smaller grade number .10
4.3.3 Concentrations of visibility imperfections .10
4.3.4 Test method for visibility .10
4.4 Location of the indication .10
Bibliography .12
© ISO 2017 – All rights reserved iii

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ISO 10110-7:2017(E)

Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation on the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO’s adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following
URL: w w w . i s o .org/ iso/ foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee
SC 1, Fundamental standards.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 10110-7:2008), which has been
technically revised.
The main changes compared to the previous edition are as follows:
— an additional notation has been added which allows the specification of a maximum allowable width
for imperfections;
— long imperfection accumulation rules have been corrected to coincide with the Renard series of
grades;
— the rules for determining concentrations have been clarified;
— the test method notations and meanings have been clarified;
— an additional notation has been added which allows the use of the popular scratch and dig
specification for cosmetic surface imperfections;
— in addition, several changes have been made to bring this document into alignment with the
inspection methods for surface imperfections which are described in ISO 14997, and various
editorial corrections have been made throughout this document.
A list of all parts in the ISO 10110 series can be found on the ISO website.
iv © ISO 2017 – All rights reserved

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ISO 10110-7:2017(E)

Introduction
A localized surface imperfection, such as a dig or a scratch resulting from handling or manufacture,
can degrade the perceived quality of an optical component. In some cases, surface imperfections are
specified according to their visibility, and in other cases, according to their size.
Visual dark field inspection reveals the location of very small imperfections. The use of a brightness
comparison standard, together with tolerance levels agreed upon by the manufacturer and user, permits
classification of an imperfection as acceptable or unacceptable. This form of subjective inspection based
on visibility or a visual assessment of brightness or apparent size, although economical and fast, lacks
precision.
In cases where the size, and not the brightness, is important, surface imperfections are specified
according to their affected area (dimensional assessment). In this case, visual assessment using
a dimensional comparison standard is still possible, but lacks the precision required for some
applications. Measurement is only required as a second stage operation following a visual inspection
to determine location and to select a surface imperfection worthy of study. In such cases, a drawing
notation indicating this level of inspection is required and can be added to the specification.
© ISO 2017 – All rights reserved v

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INTERNATIONAL STANDARD ISO 10110-7:2017(E)
Optics and photonics — Preparation of drawings for
optical elements and systems —
Part 7:
Surface imperfections
1 Scope
ISO 10110 (all parts) specifies the presentation of design and functional requirements for single optical
elements and for optical assemblies in technical drawings used for their manufacture and inspection.
This document specifies the indication of the level of acceptability of surface imperfections within a
test region on individual optical elements and optical assemblies. These include localized surface
imperfections, edge chips and long scratches.
The acceptance level for imperfections is specified, taking into account functional effects (affecting
image formation or durability of the optical element), as well as cosmetic (appearance) effects.
This document applies to transmitting and reflecting surfaces of finished optical elements, whether
or not they are coated, and to optical assemblies. It allows permissible imperfections to be specified
according to the area affected by imperfections, or alternatively by the visibility of imperfections, on
components or in optical assemblies.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 10110-1, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems —
Part 1: General
ISO 14997, Optics and photonics — Test methods for surface imperfections of optical elements
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 10110-1 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— IEC Electropedia: available at http:// www .electropedia .org/
— ISO Online browsing platform: available at http:// www .iso .org/ obp
NOTE See also Figure 1 for an illustration of the classification of imperfections.
© ISO 2017 – All rights reserved 1

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ISO 10110-7:2017(E)

3.1
localized surface imperfection
artefact of limited extent within a test region on an optical surface, optical element or optical assembly
produced by improper treatment during or after fabrication or in use, or by a material imperfection
located at the surface
Note 1 to entry: Examples of localized artefacts are scratches, pits, sleeks, scuffs and fixture marks and adherent
particles. Also included are localized coating imperfections defined in ISO 9211-1. The line-like imperfections in
ISO 9211-1 are regarded as kinds of scratches. The point-like imperfections in ISO 9211-1 are regarded as kinds of
digs. Imperfections can be on a surface or within the material. ISO 9802 includes a glossary of terms in use.
Note 2 to entry: Localized surface imperfections in optical assemblies can occur on any optical surface of the
assembly. This also includes bubbles and inclusions in a cement layer of the optical subassembly.
Figure 1 — Classification of imperfections
3.2
long scratch
surface imperfection longer than 2 mm
Note 1 to entry: These imperfections tend to be more visible than shorter imperfections of the same width
because of their length.
3.3
edge chip
material entirely removed due to fracture near the periphery of an element
Note 1 to entry: Any separation of material remaining connected to the element is defined as a fracture and is not
acceptable.
Note 2 to entry: Even if edge chips are outside the optically effective area, they can detrimentally affect the
performance of optical systems by disturbing the sealing of elements or by giving rise to a source of scattered
light or to sites of crack propagation.
3.4
dig
localized surface imperfection which is not a long scratch
2 © ISO 2017 – All rights reserved

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ISO 10110-7:2017(E)

3.5
scuff
thin surface imperfection which is shorter than 2 mm
4 Indication in drawings
4.1 General
A code number and a numerical term give the indication of permissible surface and localized
imperfections. The code number for surface imperfections on individual optical elements or surfaces is
5/ and the code number for surface imperfections within optical assemblies is 15/.
One or more test regions for surface imperfection specifications may be indicated for an optical surface.
If no test regions are indicated, the test region shall be the effective aperture of the surface.
Two different methods of tolerance for imperfections are allowed. The method used is defined by the
notation on the drawing. Notations for the specification of the dimensions or size of imperfections
are given in 4.2. Notations for the specification of the visibility or appearance of imperfections are
given in 4.3.
In ISO 14997, a hierarchy of inspection levels is described. Preference for visual review only (level IV or
V
IV inspection), a subjective comparison inspection (level IS for dimensional specifications or IS for
D D V
visibility specifications) or an objective measurement only (level IM for dimensional specifications)
D
may be recorded with a notation as described in 4.2.5 and 4.3.4.
4.2 Dimensional specification method for optical elements and assemblies
4.2.1 Maximum permissible surface imperfections
4.2.1.1 Surface imperfections in the dimensional specification method (general imperfections)
When the dimensional specification method is used, the drawing indication for number and size of
surface imperfections that are permissible within the test region of an optical surface is
5/N × A
g g
and for localized surface imperfections in optical assemblies, it is
15/N × A
g g
where
N is the number of allowed imperfections;
g
A is the grade number which is equal to the square root of the area of the maximum allowed
g
imperfection, expressed in millimetres as defined in ISO 14997.
Specified grades shall be selected according to the Renard R5 series; acceptable values of grades of
surface imperfections are 4; 2,5; 1,6; 1,0; 0,63; 0,4; 0,25; 0,16; 0,1; 0,063; 0,04; 0,025; 0,016 and 0,01.
While values greater than 4 or less than 0,01 are allowed, they are not recommended.
In cases where a separate tolerance for long scratches is given, general imperfection tolerances greater
than 2 mm should not be used.
In the case of an optical system or subassembly, where the indication 15/ is not used, the surface
imperfection tolerances given for the individual elements apply also for the surfaces of the optical
system or subassembly, i.e. after cementing (or optically contacting). Imperfection tolerances for
© ISO 2017 – All rights reserved 3

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ISO 10110-7:2017(E)

cemented surfaces taken from the element drawings should be adjusted to consider the enlarged or
reduced view of the imperfections through an optical element. For example, if an imperfection is to be
viewed through a strong negative lens, it will appear to be smaller than it really is. Conversely, if it is to
be viewed through a strong positive lens, it will appear to be larger than it really is.
4.2.1.2 Maximum permissible width of imperfections
If necessary, to limit the widths of imperfections, the indication may be supplemented with the
indication of the maximum permissible width of the imperfection. By limiting both the area and the
width, the length is necessarily constrained as well. In this case, the indication becomes
5/ or 15/N × A ; WA
g g w
where
W is the designation for width;
A is the maximum permissible width of any imperfection, expressed in millimetres.
w
EXAMPLE 5/1 × 0,25; W0,04
In this example, the maximum allowed width of an imperfection is 0,04 mm, while the maximum
2
allowed area of an imperfection is 0,25 mm × 0,25 mm or 0,062 5 mm . Thus, the maximum permissible
2
length of a maximum width imperfection is 0,062 5 mm /0,04 mm or 1,6 mm.
4.2.1.3 Coating imperfections
A coating imperfection tolerance may be written after the indication for surface imperfections and
separated from it by a semicolon. The indication for coating imperfections that are permissible within
the test region of the optical surface or assembly is
CN × A
c c
where
C is the designation for coating imperfections;
N is the number of allowed blemishes of maximum permitted size;
c
A is the grade number as defin
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 10110-7
Troisième édition
2017-08
Optique et photonique — Indications
sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 7:
Imperfections de surface
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements
and systems —
Part 7: Surface imperfections
Numéro de référence
ISO 10110-7:2017(F)
©
ISO 2017

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ISO 10110-7:2017(F)

DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2017, Publié en Suisse
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée
sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie, l’affichage sur
l’internet ou sur un Intranet, sans autorisation écrite préalable. Les demandes d’autorisation peuvent être adressées à l’ISO à
l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
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ii © ISO 2017 – Tous droits réservés

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ISO 10110-7:2017(F)

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Indication sur les dessins . 3
4.1 Généralités . 3
4.2 Méthode de spécification dimensionnelle pour les éléments et ensembles optiques . 3
4.2.1 Imperfections de surface maximales admissibles . 3
4.2.2 Indication des imperfections de surface pour la méthode de
spécification dimensionnelle . 6
4.2.3 Imperfections avec une référence de classe inférieure selon la méthode de
spécification dimensionnelle . 6
4.2.4 Concentrations des imperfections de surface avec la méthode de
spécification dimensionnelle . 7
4.2.5 Méthodes d’essai pour la méthode de spécification dimensionnelle . 7
4.3 Méthode de spécification de la visibilité pour les éléments et ensembles optiques . 8
4.3.1 Imperfections de surface maximales admissibles . 8
4.3.2 Imperfections avec une référence de classe inférieure selon la
spécification de visibilité .10
4.3.3 Concentrations d’imperfections de visibilité .11
4.3.4 Méthode d’essai pour la visibilité .11
4.4 Emplacement de l’indication .11
Bibliographie .12
© ISO 2017 – Tous droits réservés iii

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ISO 10110-7:2017(F)

Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou sur la liste ISO des déclarations de
brevets reçues (voir www .iso .org/ brevets).
Les éventuelles appellations commerciales utilisées dans le présent document sont données pour
information à l’intention des utilisateurs et ne constituent pas une approbation ou une recommandation.
Pour une explication sur la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation de la conformité, aussi bien que les informations au sujet de
l’adhésion de l’ISO aux principes de l’Organisation Mondiale du Commerce (OMC) concernant les
obstacles techniques au commerce (OTC) voir le lien suivant: w w w . i s o .org/ iso/ fr/ avant -propos .html
Le présent document a été préparé par le comité technique ISO/TC 172, Optique et photonique, sous-
comité SC 1, Normes fondamentales.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 10110-7:2008), qui a fait l’objet
d’une révision technique.
Les principales modifications par rapport à la précédente édition sont les suivantes:
— une annotation supplémentaire permettant de spécifier la largeur maximale admissible des
imperfections a été ajoutée;
— les règles d’accumulation des imperfections longues ont été revues pour coïncider avec les séries
de Renard;
— les règles de détermination des concentrations ont été clarifiées;
— les annotations et les significations de la méthode d’essai ont été clarifiées;
— une annotation supplémentaire a été ajoutée qui permet d’utiliser la spécification populaire de
rayure et de creux pour les imperfections de surface cosmétiques;
— en outre, plusieurs changements ont été effectués pour mettre le présent document en cohérence
avec les méthodes de contrôle des imperfections de surface décrites dans l’ISO 14997, et diverses
corrections éditoriales ont été réalisées dans tout le présent document.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 10110 se trouve sur le site Web de l’ISO.
iv © ISO 2017 – Tous droits réservés

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ISO 10110-7:2017(F)

Introduction
Une imperfection de surface localisée, telle qu’un creux ou une rayure résultant d’une manipulation ou
du processus de fabrication, peut dégrader la qualité perçue d’un composant optique. Dans certains cas,
les imperfections de surface sont spécifiées en fonction de leur visibilité, et dans d’autres en fonction de
leur taille.
Un examen visuel sur fond noir révèle l’emplacement de minuscules imperfections. L’utilisation d’un
étalon de comparaison de luminosité, avec des niveaux de tolérance convenus entre le fabricant et
l’utilisateur, permet de classer une imperfection comme «acceptable» ou «non-acceptable». Ce type de
contrôle subjectif reposant sur la visibilité ou sur une évaluation visuelle de la luminosité ou de la taille
apparente, bien qu’économique et rapide, manque de précision.
Dans les cas où la taille, et non la luminosité, est importante, les imperfections de surface sont spécifiées
en fonction de la zone affectée (évaluation dimensionnelle). Dans ce cas, une évaluation visuelle avec un
étalon de comparaison dimensionnelle est encore possible, mais elle n’offre pas la précision requise
pour certaines applications. Le mesurage est seulement exigé en second lieu, à la suite du contrôle
visuel pour déterminer l’emplacement et pour choisir une imperfection de surface qui mérite d’être
examinée. Dans de tels cas, une annotation sur le dessin indiquant ce niveau de contrôle est nécessaire
et peut être ajoutée à la spécification.
© ISO 2017 – Tous droits réservés v

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NORME INTERNATIONALE ISO 10110-7:2017(F)
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour
éléments et systèmes optiques —
Partie 7:
Imperfections de surface
1 Domaine d’application
L’ISO 10110 (toutes les parties) spécifie la représentation des exigences de conception et des exigences
fonctionnelles des éléments optiques individuels et des ensembles optiques sur les dessins techniques
utilisés pour leur fabrication et contrôle.
Le présent document spécifie l’indication du niveau d’acceptabilité des imperfections de surface à
l’intérieur d’une région soumise à essai sur des éléments optiques individuels et des ensembles optiques.
Cela inclue des imperfections de surface localisées, des égrenures et des rayures longues.
Le niveau d’acceptation des imperfections est spécifié, en tenant compte des effets fonctionnels
(affectant la formation de l’image ou la durabilité de l’élément optique), ainsi que des effets cosmétiques
(apparence).
Le présent document s’applique aux surfaces de transmission et de réflexion d’éléments optiques finis,
qu’ils soient ou non revêtus, et aux ensembles optiques. Elle permet de spécifier les imperfections
admissibles en fonction de la zone affectée par les imperfections ou, en alternative, la visibilité de ces
dernières sur les composants ou dans des ensembles optiques.
2 Références normatives
Les documents suivants cités dans le texte constituent, pour tout ou partie de leur contenu, des
exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les
références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 10110-1, Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 1: Généralités
ISO 14997, Optique et photonique — Méthodes d’essai applicables aux imperfections de surface des éléments
optiques
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO 10110-1 ainsi que les
suivants s’appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http:// www .electropedia .org/
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse http:// www .iso .org/ obp
NOTE Voir aussi la Figure 1 pour une illustration de la classification des imperfections.
© ISO 2017 – Tous droits réservés 1

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ISO 10110-7:2017(F)

3.1
imperfection de surface localisée
défaut d’une étendue limitée localisé à l’intérieur d’une région soumise à l’essai sur une surface optique,
d’un élément optique ou d’un ensemble optique, produit par un traitement incorrect pendant ou après le
processus de fabrication ou lors de l’utilisation, ou par une imperfection du matériau située à la surface
Note 1 à l’article: Les rayures, les piqûres, les filandres, les éraflures, les marques de serrage et les particules
collées sont des exemples de ces défauts localisés. Sont également incluses les imperfections de traitement
localisées définies dans l’ISO 9211-1. Les défauts linéaires dans l’ISO 9211-1 sont considérés comme des types de
rayures. Les défauts ponctuels dans l’ISO 9211-1 sont considérés comme des types de creux. Les imperfections
peuvent se situer sur une surface ou à l’intérieur du matériau. L’ISO 9802 comporte un glossaire des termes
employés.
Note 2 à l’article: Les imperfections de surface localisées dans des ensembles optiques peuvent se produire sur
n’importe quelle surface optique de l’ensemble. Cela inclut également les bulles et les inclusions dans une couche
de colle d’un sous-ensemble optique.
Figure 1 — Classification des imperfections
3.2
rayure longue
imperfection de surface de longueur supérieure à 2 mm
Note 1 à l’article: Ces imperfections tendent à être plus visibles que des imperfections plus courtes de même
largeur en raison de leur longueur.
3.3
égrenure
matière entièrement enlevée due à une fracture près de la périphérie d’un élément
Note 1 à l’article: Toute séparation de matière restant connectée à l’élément est défini comme une fracture et n’est
pas acceptable.
Note 2 à l’article: Même si les égrenures se trouvent en dehors de la zone optique utile, elles peuvent nuire à la
performance des systèmes optiques en gênant le scellement des éléments ou en générant une source de lumière
diffractée ou des emplacements de propagation de fissures.
2 © ISO 2017 – Tous droits réservés

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ISO 10110-7:2017(F)

3.4
creux
imperfection de surface localisée qui n’est pas une rayure longue
3.5
éraflure
fine imperfection de surface qui est plus courte que 2 mm
4 Indication sur les dessins
4.1 Généralités
L’indication des imperfections de surface et des imperfections localisées admissibles sont données par
un numéro de code et une valeur numérique. Le numéro de code pour les imperfections de surface sur
des éléments optiques individuels ou des surfaces est 5/ et celui pour les imperfections de surface dans
des ensembles optiques est 15/.
Une ou plusieurs régions soumises à essai pour les spécifications d’imperfection de surface peuvent
être indiquées pour une surface optique. Si aucune région d’essai n’est indiquée, la région soumise à
essai doit être l’ouverture réelle de la surface.
Deux méthodes différentes de tolérance des imperfections sont admises. La méthode utilisée est
définie par l’annotation sur le dessin. Les annotations pour la spécification des dimensions ou de la
taille des imperfections sont données en 4.2. Les annotations pour la spécification de la visibilité ou de
l’apparence des imperfections sont données en 4.3.
Dans l’ISO 14997, une hiérarchie des niveaux de contrôle est décrite. La préférence en faveur d’une
revue visuelle seulement (contrôle de niveau IV ou IV ), un contrôle de comparaison subjectif (niveau
V D
IS pour les spécifications dimensionnelles ou IS pour les spécifications de visibilité) ou d’un mesurage
D V
objectif seulement (niveau IM pour les spécifications dimensionnelles) peut être enregistrée avec une
D
annotation tel que décrit en 4.2.5 et 4.3.4.
4.2 Méthode de spécification dimensionnelle pour les éléments et ensembles optiques
4.2.1 Imperfections de surface maximales admissibles
4.2.1.1 Imperfections de surface avec la méthode de spécification dimensionnelle
(imperfections générales)
Lorsque la méthode de spécification dimensionnelle est utilisée, l’indication sur le dessin du nombre
et de la taille des imperfections de surface qui sont admissibles dans la région soumise à essai d’une
surface optique est
5/N × A
g g
et pour les imperfections de surface localisées dans des ensembles optiques, c’est
15/N × A
g g

N est le nombre d’imperfections admises;
g
A est la référence de classe, qui est égale à la racine carrée de la superficie de l’imperfection
g
maximale admise, exprimée en millimètres comme défini dans l’ISO 14997.
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ISO 10110-7:2017(F)

Les classes spécifiées doivent être choisies conformément à la série de Renard R5; les valeurs de classes
acceptables pour les imperfections de surface sont 4; 2,5; 1,6; 1,0; 0,63; 0,4; 0,25; 0,16; 0,1; 0,063; 0,04;
0,025; 0,016 et 0,01. Les valeurs supérieures à 4 ou inférieures à 0,01 sont admises, mais elles ne sont
pas recommandées.
Dans les cas où une tolérance différente est donnée pour les rayures longues, il convient de ne pas
utiliser les tolérances d’imperfection générales supérieures à 2 mm.
Dans le cas d’un système ou d’un sous-ensemble optique pour lequel l’indication 15/ n’est pas utilisée,
les tolérances d’imperfections de surface données pour les éléments individuels s’appliquent également
aux surfaces du système ou du sous-ensemble optique, c’est-à-dire après collage (ou adhérence
moléculaire). Il convient que les tolérances d’imperfections pour les surfaces collées issues de dessins
d’éléments soient ajustées pour prendre en compte la vue agrandie ou réduite des imperfections à
travers un élément optique. Par exemple, si une imperfection doit être observée à travers une lentille
fortement négative, elle apparaîtra plus petite qu’elle n’est en réalité. À l’inverse, si une imperfection
doit être observée à travers une lentille fortement positive, elle apparaîtra plus grande qu’elle n’est en
réalité.
4.2.1.2 Largeur maximale admissible des imperfections
Si nécessaire, pour limiter les largeurs des imperfections, l’indication peut être complétée par
l’indication de la largeur maximale admissible de l’imperfection. En limitant à la fois la superficie et la
largeur, la longueur devient nécessairement contrainte elle aussi. Dans ce cas l’indication devient:
5/ ou 15/N × A ; WA
g g w

W est la désignation de la largeur;
A est la largeur maximale admissible de n’importe quelle imperfection, exprimée en millimètres.
w
EXEMPLE 5/1 × 0,25; W0,04
Dans cet exemple, la largeur maximale admise d’une imperfection est 0,04 mm, alors que la superficie
2
maximale admise d’une imperfection est 0,25 mm × 0,25 mm ou 0,062 5 mm . Ainsi la longueur
2
maximale admise d’une imperfection de largeur maximale est 0,062 5 mm /0,04 mm ou 1,6 mm.
4.2.1.3 Imperfections de traitement
Une tolérance d’imperfection de traitement peut être écrite à la suite de l’indication des imperfections
de surface et séparée de celle-ci par un point-virgule. L’indication des imperfections de traitement qui
sont admissibles dans la région d’essai de la surface ou de l’ensemble optique est
CN × A
c c

C est la désignation des impercfections de traitement;
N est le nombre de défauts d’aspect admis, de la taille maximale permise;
c
A est la référence de classe telle que défini en 4.2.1.1.
c
L’indication des imperfections, y compris les imperfections de traitement, est
5/N × A ; CN × A
g g c c
pour les surfaces optiques, et
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15/N × A ;
...

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