IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV

NORME CEI


INTERNATIONALE IEC



61000-4-17
INTERNATIONAL


Edition 1.1
STANDARD


2002-07



Edition 1:1999 consolidée par l'amendement 1:2001

Edition 1:1999 consolidated with amendment 1:2001
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle
sur entrée de puissance à courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-17:
Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-17:1999+A1:2001

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Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.


Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
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This summary of recently issued publications
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Tél: +41 22 919 02 11
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Fax: +41 22 919 03 00
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.

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NORME CEI


INTERNATIONALE IEC



61000-4-17
INTERNATIONAL


Edition 1.1
STANDARD


2002-07



Edition 1:1999 consolidée par l'amendement 1:2001

Edition 1:1999 consolidated with amendment 1:2001
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle
sur entrée de puissance à courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-17:
Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test

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Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
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– 2 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001




SOMMAIRE




AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION .6


1 Domaine d’application . 8


2 Références normatives .10

3 Généralités .10
4 Définitions.10
5 Niveaux d’essai et forme d’onde.12
6 Générateur d’essai.14
6.1 Caractéristiques et performances du générateur .14
6.2 Vérification des caractéristiques du générateur .14
7 Installation d’essai .16
8 Procédure d’essai .16
8.1 Conditions de référence en laboratoire .16
8.1.1 Conditions climatiques .16
8.1.2 Conditions électromagnétiques.16
8.2 Exécution de l’essai .16
9 Evaluation des résultats d’essai .18
10 Rapport d’essai.20
Annexe A (informative) Informations sur le phénomène.24
Figure 1 – Exemples de formes d’onde de tension d’ondulation résiduelle.22
Figure A.1 – Exemple de générateur basé sur un système redresseur.26
Figure A.2 – Exemple de générateur basé sur une instrumentation programmable .26
Tableau 1 – Niveaux d’essai .12

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61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 3 –




CONTENTS




FOREWORD . 5

INTRODUCTION .7


1 Scope . 9


2 Normative references.11

3 General.11
4 Definitions.11
5 Test levels and waveform.13
6 Test generator .15
6.1 Characteristics and performance of the generator .15
6.2 Verification of the characteristics of the generator .15
7 Test set-up .17
8 Test procedure.17
8.1 Laboratory reference conditions .17
8.1.1 Climatic conditions .17
8.1.2 Electromagnetic conditions.17
8.2 Execution of the test .17
9 Evaluation of test results .19
10 Test report .21
Annex A (informative) Information on the phenomenon .25
Figure 1 – Examples of ripple voltage waveforms.23
Figure A.1 – Example of generator based on a rectifier system .27
Figure A.2 – Example of generator based on programmable instrumentation.27
Table 1 – Test levels .13

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– 4 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001



COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________


COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –


Partie 4-17: Techniques d’essai et de mesure –

Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle sur entrée de puissance

à courant continu




AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-17 a été établie par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-17 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
La présente version consolidée de la CEI 61000-4-17 comprend la première édition (1999)
[documents 77A/271/FDIS et 77A/280/RVD] et son amendement 1 (2001) [documents

77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RVD].
Le contenu technique de cette version consolidée est donc identique à celui de l'édition de
base et à son amendement; cette version a été préparée par commodité pour l'utilisateur.
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l'amendement 1.
L’annexe A est donnée uniquement à titre d'information.
Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendement ne sera
pas modifié avant 2006. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.

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61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 5 –




INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________


ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –


Part 4-17: Testing and measurement techniques –

Ripple on d.c. input power port immunity test




FOREWORD

1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-17 has been prepared by subcommittee 77A: Low-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms part 4-17 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in accordance with
IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-17 consists of the first edition (1999) 77A/271/FDIS
and 77A/280/RVD] and its amendment 1 (2001) 77B/291+293/FDIS and 77B/298+300/RVD].

The technical content is therefore identical to the base edition and its amendment and has
been prepared for user convenience.
It bears the edition number 1.1.
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendment 1.
Annex A is for information only.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendment will
remain unchanged until 2006. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.

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– 6 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001



INTRODUCTION



La présente norme fait partie de la série CEI 61000, structurée comme suit:



Partie 1: Généralités

Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)


Définitions, terminologie

Partie 2: Environnement

Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas des comités de produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d’essai
Partie 5: Guide d’installation et d'atténuation
Guide d’installation
Méthodes et dispositifs d’atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est à son tour subdivisée en plusieurs parties publiées soit comme Normes
internationales, soit comme rapports techniques, dont certaines ont déjà été publiées en tant
que sections. D'autres seront publiées avec le numéro de la partie suivi d'un tiret et d'un
second chiffre identifiant la subdivision.
Cette partie est une Norme internationale qui donne des procédures d’essai concernant

l’ondulation résiduelle sur entrée à courant continu.

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61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 7 –



INTRODUCTION



This standard is part of the IEC 61000 series, according to the following structure:



Part 1: General

General considerations (introduction, fundamental principles)


Definitions, terminology

Part 2: Environment

Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards
or technical reports, some of which have already been published as sections. Others will be
published with the part number followed by a dash and a second number identifying the
subdivision.
This part is an International Standard which gives test procedures related to ripple on d.c. input

power port.

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– 8 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001




COMPATIBILITE ELECTROMAGNETIQUE (CEM) –


Partie 4-17: Techniques d’essai et de mesure –

Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle sur entrée de puissance

à courant continu




1 Domaine d’application


La présente partie de la CEI 61000 définit les méthodes d'essai d'immunité aux ondulations
résiduelles appliquées à l'entrée de l'alimentation à courant continu des matériels électriques
ou électroniques.
La présente norme s’applique aux entrées de puissance à courant continu basse tension des
matériels alimentés par des systèmes redresseurs externes ou par des batteries qui sont en
charge.
L’objet de la présente norme est d’établir une base commune et reproductible pour les essais
afin d’évaluer en laboratoire la performance des matériels électriques et électroniques
lorsqu’ils sont soumis à des tensions d’ondulation résiduelle, comme par exemple celles qui
sont produites par les systèmes redresseurs et/ou les chargeurs de batteries auxiliaires
superposés à des sources d’alimentation à courant continu.
La présente norme définit
– la forme d’onde de la tension d’essai;
– une gamme de niveaux d’essai;
– le générateur d’essai;
– l'installation d’essai;
– la procédure d’essai.
L'essai décrit ci-après s'applique aux matériels et systèmes électriques ou électroniques.
Il s'applique également aux modules ou aux sous-systèmes lorsque la puissance assignée de
l'équipement sous test (EST) est supérieure à la capacité du générateur d'essai spécifiée à
l'article 6.
Le présent essai ne s’applique pas aux matériels reliés aux systèmes de chargeurs de batterie
comprenant des convertisseurs à découpage.

La présente norme ne précise pas les essais à effectuer sur des appareils ou systèmes
particuliers. Son objectif principal est de fournir une référence générale de base à tous les
comités de produits concernés au sein de la CEI. Ces comités de produits (ou les utilisateurs
ou les fabricants de matériels) restent responsables du choix approprié de l’essai et du niveau
de sévérité à appliquer à leurs matériels.
Des procédures d'essai dédiées sont utilisées pour soumettre à essai des catégories
spécifiques de matériels électriques ou électroniques, par exemple le matériel connecté au
réseau d'alimentation en courant continu de centres de commutation téléphoniques; il convient
que les comités de produits correspondants évaluent la pertinence et l'applicabilité de la
procédure d'essai spécifiée dans la présente norme fondamentale.

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ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –


Part 4-17: Testing and measurement techniques –

Ripple on d.c. input power port immunity test





1 Scope


This part of IEC 61000 defines test methods for immunity to ripple at the d.c. input power port
of electrical or electronic equipment.
This standard is applicable to low-voltage d.c. power ports of equipment supplied by external
rectifier systems, or batteries which are being charged.
The object of this standard is to establish a common and reproducible basis for testing, in a
laboratory, electrical and electronic equipment when subjected to ripple voltages such as those
generated by rectifier systems and/or auxiliary service battery chargers overlaying on d.c.
power supply sources.
This standard defines
– test voltage waveform;
– range of test levels;
– test generator;
– test set-up;
– test procedure.
The test described hereafter applies to electrical or electronic equipment and systems. It also
applies to modules or subsystems whenever the equipment under test (EUT) rated power is
greater than the test generator capacity specified in clause 6.
This test does not apply to equipment connected to battery charger systems incorporating
switch mode converters.
This standard does not specify the tests to be applied to particular apparatus or systems. Its
main aim is to give a general basic reference to IEC product committees. These product
committees (or users or manufacturers of equipment) remain responsible for the appropriate

choice of the test and the severity level to be applied to their equipment.
Dedicated test procedures are in use for testing specific categories of electrical or electronic
equipment, e.g. equipment connected to d.c. supply network of telephone switching centres;
the related product committees should evaluate the relevance and applicability of the test
procedure specified in this basic standard.

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– 10 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001




2 Références normatives


Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent

document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non

datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels

amendements).


CEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:

Compatibilité electromagnétique


CEI 60068-1:1988, Essais d’environnement – Première partie: Généralités et guide
CEI 61000-4-11:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension, coupures brèves et
variations de tension
3 Généralités
L’ondulation résiduelle peut influer sur la fiabilité du fonctionnement des matériels et des
systèmes, alimentés en courant continu, et installés dans des installations industrielles, rési-
dentielles ou commerciales.
La perturbation par ondulation résiduelle est représentée par la tension dérivée d’une grandeur
impulsionnelle de laquelle la composante directe a été retirée.
Les principales sources de perturbation par ondulation résiduelle sont les systèmes
redresseurs utilisés dans les réseaux de puissance externes à courant continu et les chargeurs
de batteries.
L’ondulation résiduelle est par conséquent un phénomène présent en permanence dans ce
type de source de puissance à courant continu, et elle peut s’accentuer lors du rechargement
de la batterie pendant le rétablissement du service de la ligne de courant alternatif.
Les composantes de l’ondulation résiduelle peuvent aussi être produites par des matériels
absorbant un courant impulsionnel, mais ces composantes ne sont pas du domaine de la
présente norme.
4 Définitions

Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61000, les définitions suivantes s’appliquent,
ainsi que celles de la CEI 60050(161) [VEI].
4.1
ondulation, composante alternative
grandeur obtenue en retranchant d’une grandeur pulsatoire sa composante continue (voir
figure 1) [VEI 161-02-25]
4.2
EST
matériel en essai

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61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 11 –




2 Normative references


The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For

dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of

the referenced document (including any amendments) applies.


IEC 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161:

Electromagnetic compatibility


IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance

IEC 61000-4-11:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measuring
techniques – Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity test
3 General
Ripple may influence the reliable operation of equipment and systems, powered by d.c.
supplies, installed in industrial plants as well in residential and commercial installations.
The ripple disturbance is represented by the voltage derived from a pulsating quantity from
which the direct component has been removed.
The main sources of ripple disturbance are rectifier systems used in the external d.c. power
networks and battery chargers.
Ripple is therefore a phenomenon continuously present in this type of d.c. power source, and
may be accentuated when the battery is recharging after a recovery of the a.c. power line
service.
Ripple components may also be produced by equipment absorbing a pulsating current; this is
not covered in thi
...